此時的法國學技，依舊于世界上的第一梯隊。
尤其是法國的激干涉測量技，能提供納米級別的度。
還有法國的紅外學檢測技，能在不破壞硅片的前提下，快速檢測半導晶圓部的晶格缺陷、位錯，能大幅降低硅片的不良率。
戴高樂突然反應過來，一臉嚴肅問道：
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